|
||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
Популярный тренинг: Посетите наш новый тренинг и поддержите его на FacebookНаши контакты:
Телефон в Москве (495)-648-63-28, В Калининграде (4012)-563671 rational.tools.info@gmail.com и info@cmcons.com Новое на сайте:Наши партнёры:
|
Нанотехнологический комплекс "УМКА"Поставка, обучение и последующее сопровождение туннельного сканирующего нано технологического комплекса"УМКА" → Нанотехнологическое оборудование "Умка"
Оглавнение
«УМКА» является прекрасным инструментом для обучения современным практическим методам работы с наноразмерными структурами. Комплекс может быть также с успехом использован для исследований в научных и промышленных лабораториях.
Технические характеристики НТК «УМКА»
|
|||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| Разрешение |
атомарное, молекулярное |
| Размер образца (мм) | 8 х 8 х (0,5…4,0)* |
| Поле сканирования (мкм) | 5 х 5 х 3 |
| Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм) | 0,08/0,008 |
| Диапазон высот (мкм) | 1± 0,2 |
| Шаг измерения по вертикали (нм), не хуже | <0,02 |
| Шумы: | |
| по X и Y : - в полном поле - в режиме 1:10 |
0,15 нм 0,02 нм |
| по Z | 0,04 нм |
| Устанавливаемые параметры: | |
| - напряжение на туннельном зазоре (В) | 0 ± 2,3 |
| - туннельный ток (пА) | 60 … 5000* |
| Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ) | 0,04 |
| Параметры сигнала для модуляции туннельного промежутка: | |
| - форма сигнала | Произвольная программно задаваемая |
| - частота (кГц) | 10 … 100 |
| - глубина модуляции (пм) | ± (1...100) |
| Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более | < 7 сек |
| Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более | < 4 мин |
| Время выхода системы на рабочий режим, не более | <2 мин |
| Режимы работы: | |
| - режим сканирования по постоянному току; | |
| - режим сканирования с постоянной высотой; | |
| - режим измерения шумовой характеристики поверхности; | |
| - режим измерения вольт-амперной характеристики поверхности; | |
| - режим измерения h-амперной характеристики поверхностию | |
| * - Параметры могут изменяться по согласованию с заказчиком | |
Галерея изображений, полученных с помощью комплекса «Умка» (файл объемом 3,5 Мб .)
По своим техническим характеристикам комплекс «УМКА» соответствует лучшим СТМ, представленным на международном рынке, однако значительно проще в обслуживании и дешевле. Это создает реальные предпосылки для массового внедрения комплекса, как в сферу подготовки профессиональных кадров, так и во многие отрасли российской промышленности с целью их технологического перевооружения, отвечающего современным требованиям научно-технического прогресса. Около ста комплексов «Умка», поставленные в ряд ВУЗов, академических институтов и отраслевых НИИ, уже зарекомендовали себя с самой лучшей стороны, позволив получить научные результаты высокого уровня.
| Модель | Наименование |
Особенность модели |
| БАЗОВАЯ «Учебная» модель | УМКА-02-Е | Рабочая камера работает в атмосферных условиях |
| «Низкотоковая» модель | УМКА-02-L | Для биологических объектов |
| «Газонаполненная» модель | УМКА-02-G | Рабочая камера может иметь атмосферу, необходимую пользователю |
Обладая выигрышным для пользователей соотношением
ЦЕНА-КАЧЕСТВО-УДОБСТВО И ПРОСТОТА ИСПОЛЬЗОВАНИЯ,
НТК «УМКА» конкурентоспособен как на отечественном, так и международном рынках.
Около ста комплексов «Умка», поставленные в ряд ВУЗов, академических и отраслевых институтов,
зарекомендовали себя с самой лучшей стороны,
позволив получить исследователям научные результаты высокого уровня.
03.02.2009
| Copyright © 2011-2012 СМ Консалт Телефон в Москве (495)-648-63-28, В Калининграде (4012)-563671 | Блоги специалистов: http://anovichkov.msk.ru | http://ashamray.wordpress.com |www.cmcons.com | Наш Twitter |
|