|
|
"Умка-02-L"- низкотоковая модификация комплекса "Умка-02-Е", специально разработанная для исследования плохопроводящих полимерных пленок и биологических объектов. Благодаря особенностям конструкции комплекса, он может работать на поверхостных точках утечки и сканировать объекты, ранее считавшиеся непригодными для изучения методами СТМ без дополнительных технологических операций (запыления металами и т.д.)
Комплекс также может использоваться для исследования быстроокисляемых поверхностей и поверхностей с высокой адгезией.
Купить в магазине
|
|
Основные достоинства:
- работа с плохопроводящими и биологическими образцами;
- вызможность изменять и контролировать рабочую среду (состав, температуру, влажность);
- высокая резонансная частота;
- повышенная виброустойчивость и помехозащищенность;
- простотав обучении и обслуживании;
- высокая надежность и достоверность получаемых результатов;
- высокая температурная стабильность, позволяющая проводить длительные манипуляции с отдельными группами атомов;
- высокая скорость сканирования.
Комплект поставки:
- блок пъезоманипуляторов;
- блок управления;
- программное обеспечение;
- руководство пользователя;
- комплект инструментов и тестовых образцов;
- паспорт.
|
Разрешение
|
атомарное, молекулярное
|
Поле сканирования (мкм)
|
5 х 5 х 3
|
Шаг сканирования в плоскости образца в полном поле/ в режиме 1:10, (нм)
|
0,08/0,008
|
Диапазон высот (мкм)
|
1±0,2
|
| Устанавливаемые параметры |
- напряжение на туннельном зазоре (В)
|
0±2,3
|
- туннельный ток (пА)
|
1 … 1500
|
Шаг задания (измерения) напряжение туннельного зазора (мВ)
|
0,04
|
Размер образца (мм)
|
8 х 8 х (0,5…4,0)
|
| Параметры сигнала для модуляции туннельного промежутка: |
| - форма сигнала |
произвольная программнозадаваемая
|
| - частота (кГц) |
10 … 100 |
| - глубина модуляции (пм) |
± (1...100) |
Время сканирования кадра 3*3 нм с атомарным разрешением, не более (сек)
|
7
|
Время сканирования кадра 5*5 мкм, не более (мин)
|
4
|
| Время выхода системы на рабочий режим, не более (мин) |
2
|
| Режимы работы: |
| - режим сканирования по постоянному току; |
| - режим сканирования с постоянной высотой; |
| - режим измерения шумовой характеристики поверхности; |
| - режим измерения вольт-амперной характеристики поверхности; |
| - режим измерения h-амперной характеристики поверхностию. |
|